在上一期的研讨会中,我们介绍了如何在芯片设计、实现和验证阶段,利用西门子 EDA的成熟工具,轻松玩转ISO26262。
今天我们来聊一聊关于芯片测试,西门子 EDA带你怎么玩!
车规芯片怎么测?车规芯片的测试有什么特别之处?车规芯片的测试怎么满足ISO26262的要求?车规芯片出厂前怎么测?车规芯片上车后怎么测?车规芯片老化后怎么测?汽车运行前怎么测?汽车运行中怎么测?汽车运行后怎么测?
测测测,带着这些问题,让我们一起群‘测’群力~!
讲师介绍
李一凡
西门子EDA Tessent产品经理,负责Tessent产品以及DFT解决方案的市场推广。有超过10年芯片设计验证,DFT方案实现和工具培训的经验。从DFT方案的设计落实,仿真验证,到回片之后的测试诊断。全方位地为国内外客户芯片测试保驾护航。
6月8日19:00
“西门子 EDA 邀您轻松玩转 ISO26262(下)”线上研讨会
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来源:西门子EDA
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